金绍维
,
顾伟伟
,
周先意
,
吴文彬
,
翁惠民
,
朱长飞
,
叶邦角
,
韩荣典
低温物理学报
doi:10.3969/j.issn.1000-3258.2004.02.003
用单能慢正电子束,测量了不同氧分压下生长的La0.7Sr0.3MnO3外延膜的S参数与入射正电子能量E的关系.结果发现La0.7Sr0.3MnO3外延膜中S参数与氧分压是非单调变化的;这与沉积氧分压的两种作用相关联的.在氧分压较高的LSMO薄膜中, 空位浓度的增加主要是由沉积原子(离子)与氧原子碰撞几率增大,使其缺乏足够的动能去填补空位引起的;在低氧分压的LSMO薄膜中, 空位浓度的增大则主要是提供成膜所需要的氧原子缺乏,从而导致氧空位及其相关缺陷增加.
关键词:
缺陷性质
,
外延薄膜
,
增电子湮灭