张猛
,
夏之荷
,
周玮
,
陈荣盛
,
王文
,
郭海成
液晶与显示
doi:10.3788/YJYXS20153002.0187
研究了搭桥晶粒(BG)多晶硅薄膜晶体管(TFT)在直流电应力下的退化行为和退化机制。与普通多晶硅 TFT 相比,BG 多晶硅 TFT 展现出更好的直流应力可靠性。主要体现在 BG 多晶硅 TFT 拥有更好的直流负偏压温度不稳定性(NBTI)可靠性,更好的直流自加热(SH)可靠性,更好的直流热载流子(...
关键词:
搭桥晶粒
,
多晶硅
,
薄膜晶体管
,
负偏压温度不稳定性
,
自加热
,
热载流子
