刘慧丛
,
邢阳
,
李卫平
,
朱立群
宇航材料工艺
doi:10.3969/j.issn.1007-2330.2010.03.023
针对电子设备中的铝电解电容在贮存环境下的失效问题,通过对铝电解电容进行湿热贮存试验,考察了湿热环境引起的铝电解电容外观状态和电性能的变化,并对试验中出现的失效现象进行了分析.结果表明,铝电解电容在湿热环境下出现了引脚腐蚀和橡胶塞长霉的失效现象;环境温度对铝电解电容贮存可靠性有重要影响,温度超过40℃引脚腐蚀速度会大大加快.温度在30℃适宜霉菌生长,温度超过30℃后没有长霉现象.阳极箔上的阳极氧化膜被腐蚀是铝电解电容在湿热环境下出现电容量和漏电流增大的原因.
关键词:
铝电解电容
,
湿热环境
,
贮存试验
,
失效
张国彬
,
王玉森
,
许文
,
李辉
,
李祥臣
宇航材料工艺
主要对航天用硅橡胶制品的贮存试验研究进展情况进行了梳理总结,在此基础上指出目前存在以下三方面不足:自然贮存试验开展得少而且数据没有充分挖掘、利用；单应力加速老化试验开展得多,综合应力加速试验开展得少；贮存试验中对产品宏观性能变化关注得多,对其微观结构变化和老化机理研究得少.针对这些问题,指出了今后应在自然贮存试验信息的积累和应用、综合应力贮存试验和贮存老化机理等方面加强研究.
关键词:
硅橡胶
,
贮存试验
,
研究进展
