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Ti离子辐照诱发焦绿石Gd2Zr2O7相变的电子显微研究

祖小涛 , 练杰 , 王鲁闵

功能材料

通过高分辨和剖面电子显微技术研究了离子注入在单晶焦绿石Gd2Zr2O7中的产生的结构相变.在单晶Gd2Zr2O7中注入200keV Ti+离子,注量为1×1017ions/cm2,注入温度为常温.电子显微研究表明,1×1017ions/cm2的Ti+离子注入没有使样品非晶化,而是诱发了单晶Gd2Zr2O7从焦绿石结构转变成萤石结构.从高分辨像和选区电子衍射花样发现Gd3+和Zr3+发生了阳离子无序.重离子入射产生的级联碰撞致使阳离子无序被认为是相变发生的物理机制.

关键词: 相变 , 离子注入 , 焦绿石 , 阳离子无序 , 辐照效应

单晶硅低能电子束辐照效应

高晖 , 王和义 , 张华明 , 黄利斌 , 何小波 , 周银行

材料科学与工程学报

利用Monter-Carlo方法,模拟低能一维平面电子束在本征、不同掺杂类型、掺杂浓度下的单晶Si中能量沉积分布情况.采用电子顺磁共振(EPR)技术测量了(111)晶向、两种掺杂类型下的掺杂浓度分别为1×1015cm-3、1×1017cm-3的单晶硅片在一定电子注量下辐照前后缺陷顺磁吸收谱,比较了样品辐照前后缺陷顺磁中心强度的变化,并用X光电子能谱(XPS)对Si-SiO2系统原子化学态的变化进行分析.结果表明,相比于P型Si,N型Si、特别是高掺杂的N型Si,在低能电子一定注量下,界面区内易引起辐射感生缺陷,主要来自于键合于磷的非桥联氧对空穴的诱捕作用,表现为POHC中心明显的变化,P2P芯能级谱突变.并根据理论和实验结果,对电子能量沉积、电离缺陷和辐照效应间的相互关系进行了分析.

关键词: 低能电子束 , 单晶硅 , 能量沉积 , 辐照效应

6H-SiC材料与器件辐照效应的研究进展

牟维兵 , 龚敏 , 杨治美

材料导报

介绍了6H-SiC材料和器件辐照效应研究的目的和方法,并对国内外最近几年的研究情况进行了介绍、分析和总结.指出目前的研究主要集中于辐射效应方面,但在抗辐射加固技术方面研究不足,国内应根据现有条件注重辐射效应机理方面的研究.

关键词: 6H-SiC , 辐照效应 , 研究现状 , 发展趋势

复合材料地雷壳体X波段HPM辐照效应实验研究

罗先南 , 方向 , 高振儒 , 刘君 , 方鲲

功能材料 doi:10.3969/j.issn.1001-9731.2013.09.011

采用不锈钢纤维填充工程塑料制备复合材料地雷壳体,内部放置磁引信并连接电引火头,在微波暗室中进行X波段HPM辐射下毁伤效应实验.数值计算屏蔽效能>20dB,实验结果验证计算.当壳体存在半径5mm以下圆孔时,实验结果与数值计算均表明其对屏蔽效能影响较小;当壳体存在矩形孔缝时,其长度l、孔缝与极化方向之间角度为最大影响因素.复合材料壳体有助于提高磁引信地雷在战场高功率电磁环境下的生存能力.

关键词: 高功率微波 , 复合材料 , 磁引信 , 电磁屏蔽 , 辐照效应 , 屏蔽效能

氘和氦离子辐照下CLAM钢的辐照硬化与微结构演变

付振宇 , 王泽群 , 刘平平 , 魏印平 , 万发荣 , 詹倩

材料研究学报 doi:10.11901/1005.3093.2015.529

结合先进电子显微术和纳米压痕分析,对低活化马氏体CLAM钢的辐照行为进行了研究.在室温下对CLAM钢进行了单一注D+、单一注He+以及先注D+后注He+三种方式的离子辐照.纳米压痕硬度结果显示,离子辐照后的CLAM钢均产生了明显的硬化.通过对纳米压痕硬度曲线的拟合,得到各离子辐照后的硬化率.结果表明,注D+的辐照硬化程度最低,而注He+与D+、He+共同辐照的硬化程度均很明显.微观结构分析表明,沿离子注入深度方向,辐照缺陷密度逐渐增加然后减少;在注入深度峰值附近,产生了数密度较多的缺陷.对于单独注入He+离子以及先注D+后注入He+的CLAM钢,都产生了大量细小弥散的He泡,并且由于离子协同效应后者出现深度较浅的泡;单独注入D+的CLAM钢,并没有出现泡.注He+样品中既有位错环也有He泡,硬化效应比只有位错环的注D+样品明显;而先注D+后注He+的样品,由于注D+产生的缺陷在后续注He+时会有一定的回复,硬化效果不是注D+和注He+的简单叠加,体现出协同效应.

关键词: 金属材料 , CLAM钢 , 辐照效应 , 缺陷分布 ,

中波红外焦平面列阵探测器γ辐照效应

廖毅 , 王建新 , 张勤耀

量子电子学报 doi:10.3969/j.issn.1007-5461.2007.01.022

报道了γ射线辐照对薄膜材料碲镉汞(Hg1-xCdxTe)制备的中波红外焦平面列阵探测器性能的影响.γ射线辐照的剂量依次为3×106 rad、9×106rad、2×107 rad.测量了器件在辐照前及各个剂量辐照后的I-V特性、黑体响应、噪声等性能参数.通过分析实验数据,发现器件的暗电流,噪声随辐照剂量的增加而增大,黑体响应随辐照剂量的增大而减小.其中I-V特性受辐照影响最大,黑体响应和噪声对辐照不是很敏感.这些表明随着辐照剂量的增加,器件的性能逐步衰退.

关键词: 光电子学 , 红外焦平面探测器 , 辐照效应 , γ射线辐照 , 碲镉汞

新型闪烁体的辐照效应

刘波 , 施朝淑

无机材料学报 doi:10.3321/j.issn:1000-324X.2001.01.001

介绍了新型闪烁体辐照效应的研究进展. 高能物理实验中使用的闪烁晶体(如PWO、GSO:Ce、CeF3等)用于强辐照环境,要求高辐照硬度. 闪烁体在辐照后可能产生的变化主要有: 色心的形成、光输出改变、光输出均匀性的损伤、输出噪声增加、闪烁机制的变化. 辐照效应的产生主要是晶体的缺陷所致,提高?闪烁体辐照硬度的主要方法有退火、漂白、掺杂、控制晶体生长条件等,本文对此均作了较系统的综述. 同时也简介了研究辐照效应的实验方法:光谱分析法、热释光法、电子顺磁共振法、正电子湮没技术.

关键词: 新型闪烁体 , 辐照效应 , 结构缺陷 , 色心

立方相Y掺杂ZrO2纳米晶薄膜的制备与辐照效应研究

王卡 , 万康 , 张静 , 陈林 , 陈琼 , 常永勤 , 龙毅

无机材料学报 doi:10.15541/jim20140651

采用溶胶-凝胶结合旋涂法在单晶Si衬底上制备了立方相Y掺杂ZrO2纳米晶薄膜(YSZ),并分析了制备工艺参数对YSZ成膜的影响.采用光学显微镜、扫描电子显微镜、X射线衍射和透射电镜等手段对样品进行了表征和分析.结果表明,加入PVA作为分散剂、采用分级干燥工艺以及提高匀胶转速可大大提高YSZ薄膜的成膜质量,制备的YSZ薄膜表面十分平整,没有出现裂纹.YSZ薄膜为立方相结构,没有出现其它相.薄膜由平均晶粒尺寸为9.4 nm的纳米晶组成,薄膜的厚度约为60 nm.在室温条件下,低剂量的Xe离子辐照YSZ薄膜后出现微裂纹,而当辐照剂量比较高时,由于热峰效应,辐照引起的微裂纹逐渐发生愈合.并且,随着辐照剂量的增加,YSZ薄膜的平均晶粒尺寸增大.

关键词: ZrO2纳米晶薄膜 , 溶胶-凝胶法 , 立方相 , 辐照效应

荷能离子在C60薄膜中引起的辐照效应

金运范 , 杨茹 , 王衍斌 , 刘昌龙 , 刘杰 , 侯明东 , 姚江宏

原子核物理评论 doi:10.3969/j.issn.1007-4627.2000.03.003

用Raman散射和XPS技术分析了能量为几百keV到几百MeV的多种离子在C60薄膜中引起的辐照效应. 分析结果表明,在低能重离子辐照的C60薄膜中,其晶态向非晶态的转变过程是由核碰撞主导的. 在快离子(120 keV的H离子和171.2 MeV的S离子)辐照的情况下,电子能损起主导作用. 发现在H离子辐照过程中,电子能损有明显的退火效应,致使C60由晶态向非晶态转变的过程中,经历了一个石墨化的中间过程;而在S离子辐照的情况下,电子能损的破坏作用超过了退火效应,因此,在C60由晶态向非晶态转变的过程中,无石墨化的中间过程.

关键词: 辐照效应 , C60薄膜 , 荷能离子 , 退火效应

加速器-电子显微镜联机进行材料科学研究的新进展

蒋昌忠 , 任峰 , 张丽 , 石瑛 , 范湘军

原子核物理评论 doi:10.3969/j.issn.1007-4627.2003.03.007

离子或电子辐照引起的材料微结构演变是一个非常复杂的过程. 用加速器-电子显微镜联机装置可原位观察载能离子束辐照及辐照后退火引起的材料微结构演变, 并确定相应的辐照条件. 介绍了近10年来国际上利用加速器-电子显微镜联机装置开展材料科学研究的最新进展.

关键词: 原位观察 , 电子显微镜 , 辐照效应 , 微结构演变

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