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  • 论文(5)

过孔的不同干法刻蚀工艺对TFT-LCD性能的影响研究

霍晓迪 , 陈兵 , 李知勋 , 李淳东 , 刘华锋

液晶与显示 doi:10.3788/YJYXS20163101.0058

为了改善过孔的干法刻蚀中刻蚀率的不同导致SD线和P-Si接触面积不一致的问题,同时解决ELA工艺导致P-Si表面突起而造成SD与P-Si点状接触的问题,探究了过孔的不同干法刻蚀工艺对TFT-LCD性能的影响,从中找出最佳的过孔干法刻蚀工艺.利用京东方产线设备制备了两种不同的LTPS阵列样品,样品一的...

关键词: 干法刻蚀 , 侧面接触方式 , 过孔 , 液晶面板 , 低温多晶硅技术

钝化层沉积工艺对过孔尺寸减小的研究

李田生 , 谢振宇 , 张文余 , 阎长江 , 徐少颖 , 陈旭 , 闵泰烨 , 苏顺康

液晶与显示 doi:10.3788/YJYXS20122704.0493

为了适应TFT-LCD小型化与窄边框化以及在面板布线精细化的趋势,提高工艺设计富裕量以及增加面板的实际利用率,研究了通过改变钝化层(PVX)的沉积工艺来减小液晶面板阵列工艺中连接像素电极与漏极的过孔 (VIA)尺寸的方案,通过设计实验考察了影响过孔大小的钝化层的主要影响因素(黑点、倒角、顶层钝化层沉...

关键词: 钝化层 , 刻蚀 , 过孔

过孔刻蚀工艺优化对过孔尺寸减小的研究

李田生 , 陈旭 , 谢振宇 , 徐少颖 , 闵泰烨 , 张学智

液晶与显示 doi:10.3788/YJYXS20142905.0674

为了适应TFT-LCD小型化与窄边框化以及在面板布线精细化的趋势,提高工艺设计富裕量以及增加面板的实际利用率,之前做过钝化层沉积工艺优化来减小液晶面板阵列工艺中连接像素电极与漏极的过孔尺寸的研究.本文在此基础上进行过孔刻蚀工艺的优化,从而最终达到进一步减小过孔尺寸实现TFT-LCD小型化与窄边框化的...

关键词: 钝化层 , 刻蚀 , 过孔

高分辨率显示用小孔设计技术

曲连杰 , 郭建 , 史大为 , 陈旭 , 闵泰烨 , 杨莉

液晶与显示 doi:10.3788/YJYXS20153002.0246

为了满足市场对显示产品高分辨率的要求,需要从产品的设计和工艺各个方面进行优化,其中过孔尺寸和线宽两个因素对阵列基板分辨率影响最大,本文通过相移掩模技术可以实现对过孔尺寸的精确控制,通过在普通过孔上增加一定厚度和透过率的相移层,并对各种参数下过孔的光透过率进行模拟分析,可以获得不同相移层参数对过孔特性...

关键词: 薄膜晶体管液晶显示器 , 过孔 , 高分辨率

垂直线不良分析与改善

张光明 , 白金超 , 曲泓铭 , 张益存 , 于凯

液晶与显示 doi:10.3788/YJYXS20173205.0352

针对栅极绝缘层和栅极引线接触处形成过孔倒角造成的一种垂直线不良进行分析和改善.研究气相沉积、干法刻蚀和磁控溅射对过孔倒角的影响,通过扫描电子显微镜对过孔形貌进行表征,并用成盒检测设备检测不良发生情况.实验结果表明:通过过孔刻蚀功率、气压、气体流量的变更可以消除倒角现象,垂直线不良由1.4%降为0.7...

关键词: 垂直线不良 , 倒角 , 过孔