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蔡丽霞 , 金蔚青 , 潘志雷 , 梁歆桉 , 刘照华
人工晶体学报 doi:10.3969/j.issn.1000-985X.2001.03.011
浓度边界层是晶体生长过程中分析界面输运现象的重要元素.我们从实验角度研究了扩散机制下的BaB2O4单晶生长中过饱和温度和降温速率对浓度边界层厚度的影响.过饱和温度和浓度边界层厚度之间为抛物线关系,降温速率和浓度边界层厚度变化率之间为线性关系.
关键词: 过饱和温度 , 降温速率 , 溶质边界层 , 界面输运
