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介观LC电路中电容、电感和外源流突变所产生的量子压缩

吴卫锋 , 范洪义

量子电子学报 doi:10.3969/j.issn.1007-5461.2015.03.012

通过采用有序算符内的积分技术(IWOP技术),对介观LC电路量子化方案所得到的哈密顿量进行了分析,探讨了该方案下LC电路电容、电感、外源流在突变时所产生的量子压缩效应.结果标明:电容突变反映在正交组q呈现压缩效应;电感突变反映在另一正交相p呈现压缩效应;而外源流的非线性突变反映出来的是数-相压缩.

关键词: 量子光学 , 介观LC电路 , 数-相量子化 , 量子压缩