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铜-钨复合镀层电沉积工艺及其性能

李广宇 , 张晓燕 , 闫超杰 , 朱礼兵 , 陈湘香

电镀与涂饰

采用复合电沉积的方法,通过在镀铜液中加入直径为1~3μm的钨颗粒,在纯铜表面制备了铜_钨复合镀层.研究了镀液中钨质量浓度、阴极电流密度.搅拌速率、镀液温度等工艺参数对镀层中钨质量分数的影响,测定了复合镀层的显微硬度和接触电阻.得到了复合电沉积的最优工艺为:钨质量浓度35 g/L,电流密度4 A/dm2,搅拌强度600 r/min,温度5℃.所得铜-钨复合镀层具有合适的显微硬度(98.5~112.0 Hv)、稳定且较低的接触电阻及较长的电接触寿命,可以取代AgCdO触头.

关键词: 铜-钨复合电沉积 , 电接触材料 , 显微硬度 , 接触电阻

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