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李鹏飞
兵器材料科学与工程 doi:10.3969/j.issn.1004-244X.2002.04.012
通常的高分辨电子显微镜应用相位衬度成像,相位衬度的成像是由于透过样品的各级衍射束相互干涉的结果,其衬度取决于衍射束的相对相位关系.在扫描透射电子显微镜中使用高角度环形探测器,可以得到原子序数衬度像.介绍了高角度环形暗场(HAADF)的原子序数衬度(Z-衬度)像的成像原理及方法.
关键词: Z衬度 , 高角度环形暗场 , 成像原理
