李红军
,
苏良碧
,
徐军
,
袁清习
,
朱佩平
无机材料学报
doi:10.3724/SP.J.1077.2007.00663
采用同步幅射白光形貌及光学显微形貌等手段研究了Ce:YAP晶体中存在的孪晶缺陷. 对孪晶的性质进行了表征, 结果表明, 它们为{101}和{121}孪晶. 经分析, 我们认为相邻且相近的晶格参数互换是孪晶形成的内在因素, 并据此建立了孪晶结构模型; 另外, 晶体生长过程中放肩阶段生长速率的突变则是导致孪晶形成的主要的外部因素.
关键词:
Ce:YAP晶体
,
twin defect
,
white-beam synchrotron radiation topography
,
crystal growth
