材料期刊网

多种β射线阻挡层及X射线产额精度对BIXS技术的影响

黄郁旋 , 毛莉 , 丁伟 , 安竹

原子核物理评论 doi:10.11804/NuclPhysRev.33.01.045

氚分析在聚变堆与核技术的研究中有着广泛的应用。BIXS技术(β衰变诱发X射线谱技术)是一项无损的氚分析技术，该技术的分析深度对于高原子序数的材料能达到100μm，对低原子序数的材料能达到1 mm。在BIXS技术中，采用金属薄膜作为β射线阻挡层具有排除极化韧致辐射干扰、减少探测器信号堆积等优点。为了研...

关键词: BIXS技术 , β射线阻挡层 , 特征X射线 , 韧致辐射