欢迎登录材料期刊网
金晶 , 张新夷 , 周映雪
无机材料学报 doi:10.3724/SP.J.1077.2012.00296
利用先进光源(ALS)8.0.1光束线的软X射线荧光谱仪,对采用分子束外延(MBE)设备在200℃下生长的Zn0.97Mn0.03O和Zn0.67Mn0.33O薄膜样品进行了电子结构的研究.根据共振和非共振Mn L2,3边的X射线发射光谱,计算出Mn L2与Mn L3发射峰相对积分强度的比值(I(L...
关键词: ZnO , X射线发射光谱 , C-K跃迁 , 自由d载流子