聂中明
,
傅莉
,
任洁
,
徐聪
材料工程
doi:10.3969/j.issn.1001-4381.2008.09.003
采用扫描电镜及EDS测试研究了高电阻CdZnTe金电极与外引线的超声焊接工艺,探讨了CdZnTe表面处理工艺、接触电极厚度及焊接参数对引线超声焊接质量的影响规律.研究结果表明,经机械抛光表面处理的CdZnTe晶片,其金电极与外引线间容易实现超声焊接;CdZnTe电极厚度与引线焊合率之间呈抛物线关系,...
关键词:
CdZnTe晶片
,
超声焊接
,
表面处理
,
电极厚度
刘登峰
,
李园园
,
汪晓芹
,
杨志远
材料保护
常用于X射线和γ射线探测器中的CdZnTe(CZT)晶片经机械抛光后表面存在损伤层和许多肉眼看不到的划痕,采用溴甲醇(Br2-CH3OH)腐蚀可有效去除损伤层和划痕,使表面变得光亮平整.但经Br2-CH3OH腐蚀的表面富Te而产生较大的表面漏电流,为此,采用H2O2溶液,NH4F/H2O2溶液,KO...
关键词:
钝化
,
CdZnTe晶片
,
化学抛光
,
表面漏电流
,
探测器
张连东
,
聂中明
,
傅莉
,
查钢强
,
介万奇
功能材料
采用化学镀金法在高阻p-CZT(CdZnTe)晶片表面制备Au电极,并用改进的圆环传输线模型(Ring-CTLM)测量了CZT电极的接触电阻,探讨了大气气氛下退火温度对CZT电极欧姆特性的影响.实验结果表明,200℃退火可以显著改善欧姆特性,使接触电阻率ρc显著减小,采用Ring-CTLM模型测得C...
关键词:
CdZnTe晶片
,
化学镀金
,
接触电阻率测量
,
CdTeO3界面层
