王晓叶
,
李同起
,
郑斌
,
冯志海
,
李仲平
宇航材料工艺
doi:10.3969/j.issn.1007-2330.2010.02.026
利用X射线衍射仪,采用全谱拟含的方法,测定三种不同碳材料的点阵常数、石墨化度及微晶参数,测得三种碳材料(每个样品重复5次试验)六方晶系的a的标准偏差小于2.0×10~(-3),c的标准偏差小于1.4×10~(-3),石墨化度(g)的标准偏差小于1.5,微晶参数(L_(c002))的标准偏差小于0.5,是一种有效的测试碳材料晶体参数的方法.
关键词:
X射线衍射仪
,
全谱拟合法
,
点阵常数
,
石墨化度
,
微晶参数
