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GeV能量的Fe离子在C60薄膜中的辐照效应研究

姚存峰 , 金运范 , 宋银 , 王志光 , 刘杰 , 孙友梅 , 张崇宏 , 段敬来

原子核物理评论 doi:10.3969/j.issn.1007-4627.2007.04.013

利用傅立叶转换红外光谱和Raman谱仪分析了0.98 GeV的Fe离子在电子能损Se为3.5keV/nm时,不同辐照剂量(5×10(10)-8×10(13)ions/cm2)下,在C60薄膜中引起的辐照损伤效应.分析表明,Fe离子辐照引起了C60分子的聚合与损伤.在辐照剂量达到一中间值1×10(12)ions/cm2,C60分子的损伤得到部分恢复,归因于电子激发引起的退火效应.通过对Raman数据的拟合分析,演绎出Fe离子辐照在C60材料中形成的潜径迹截面或引起损伤的截面约为1.32×10(-14)cm2.

关键词: C60薄膜 , 辐照效应 , GeV能量的离子 , 退火效应 , 聚合

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