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H2流量对直流磁控溅射制备a-Si∶H薄膜微观结构及光学性能的影响

乔泳彭 , 蒋百灵 , 鲁媛媛 , 牛毅 , 张岩

人工晶体学报

采用直流磁控溅射法在不同H2流量的条件下制备了a-Si∶H薄膜,研究了H2流量对薄膜微观结构以及光学性能的影响.结果表明:随H2流量的增加,a-Si∶H薄膜的沉积速率有所下降,但其原子排列的有序度上升,并出现了细小的纳米晶粒,使得薄膜的无序结构得到了一定改善.同时,薄膜的光学性能也表现出明显变化,其中透过率持续上升,而光学带隙则呈现出先增大后减小的趋势.最终得到制备a-Si∶H薄膜的最优H2流量为15 sccm.

关键词: 直流磁控溅射 , H2流量 , a-Si∶H薄膜 , 光学性能

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