康桂珍
,
黄子强
液晶与显示
doi:10.3969/j.issn.1007-2780.2007.04.005
介绍了一种测量液晶盒厚度的新型光学方法--反射光谱拟合法.理论上,液晶盒的反射光谱呈正弦曲线,且曲线取极值时对应入射光波长大小值取决于所用液晶盒的厚度.反之亦然,当得知液晶空盒的反射光谱时,可以根据曲线取极值时入射光波长的值来获得待测液晶盒的厚度.软件用来搜索与实验测试数据相互吻合的液晶盒厚度.该技术以白光作为液晶盒的前端光源,且白光入射角为0°.结果表明,该方法测量范围5～30 μm,测量重复误差0.1 μm以下.实验中,光纤光谱仪用来测试反射光谱,并通过USB接口将其传输到计算机.该方法的优点是它可以在0.1 s内测试液晶盒表面任意点处的厚度,有较强的使用价值.
关键词:
液晶盒
,
反射光谱
,
光谱拟合
