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刘兵 , 柳林 , 陈振宇
金属学报
在室温下,采用动电位极化和交流阻抗谱技术(EIS)研究了(Cu47Zr11Ti34Ni8)100-x Mox(x=0, 2;原子百分数)块体非晶合金在1 mol/L H2SO4溶液中的电化学行为。结果表明,非晶合金中添加了2 at%Mo后,材料的钝化膜破裂电位(Eb)显著上升,而致钝化电位(E0) 与维钝电流密度(ip)则明显减小。这主要是由于在稳定的钝化区内,微量Mo的添加增加了基体合金中的“氧空位”和表面活性,抑制了阴离子空位在金属/表面膜(M/F)界面上形成,促使Zr、Ti元素在M/F界面上快速形成相应的氧化物,并增加了钝化层中氧化层的厚度和稳定性。根据该体系在电解质中的电化学反应,基于点缺陷模型(PDM)建立了简单的动力学模型。利用该模型,结合EIS数据,分析了微合金化提高Cu基块体非晶合金耐蚀性能的机理。
关键词: Cu基块体非晶合金 , Cu-based bulk metallic glasses , Micro-addition , Mechanism of corrosion resistance