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X-射线衍射与火焰原子吸收法联合测定ZnS:Mn薄膜屏中Mn含量

任新光

液晶与显示 doi:10.3969/j.issn.1007-2780.2008.05.024

提出一种X-射线衍射(XRD)与火焰原子吸收法(FAAS)联合测定ZnS:Mn交流电致发光(ACEL)薄膜中Mn含量的新方法.首先用XRD测定ZnS薄膜的结构,判断薄膜是否符合它的化学式量.在符合化学式量基础上,再用FAAS分别测定Zn与Mn的质量分数,最终确定Mn在ZnS薄膜中的含量.与单独采用FAAs测定相比较,测定结果的相对误差,相对标准偏差相同.但是,该方法具有样品处理简单,分析周期短,所需样品量少等优点.不仅可以提供Mn在ZnS薄膜中的含量与构成质量,同时也可以对ZnS:Mn交流电致发光膜薄的浓度分布以及均匀度提供客观的评价指标,以利于镀膜工艺中各参数指标的改善.

关键词: XRD , FAAS , Zn , Mn交流电致发光薄膜

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