郭益平
,
罗豪甦
,
潘晓明
,
徐海清
,
殷之文
无机材料学报
doi:10.3321/j.issn:1000-324X.2003.05.006
测试了采用熔体法通过使用异质同构的Pb(Mg1/3Nb2/3)O3-PbTiO3籽晶生长出的Pb(In1/2Nb1/2)O3-PbTiO3单晶的铁电、压电性能的温度稳定性.研究结果发现,<001>取向的PIN-PT单晶不但具有非常优越的铁电、压电性能,其室温电容率ε达5000左右,介电损...
关键词:
PIN-PT单晶
,
压电
,
介电
,
温度稳定性
