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温度对PTCDA结构形貌影响的Raman和AFM分析

孙硕 , 胥超 , 张桂铃 , 苏庆 , 李建丰 , 欧谷平 , 张福甲

功能材料

通过真空蒸发将PTCDA淀积在p-Si(100)面.采用Raman光谱,AFM分别研究了衬底温度对于PTCDA分子结构和表面形貌的影响,进而完善了p-Si基PTCDA薄膜的生长机制.

关键词: PTCDA/p-Si , Raman光谱 , AFM , 衬底温度

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