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制备条件对Pr123体系氧含量及正电子寿命谱影响

曹桂新 , 李平林 , 刘永生 , 曹世勋 , 张金仓

低温物理学报 doi:10.3969/j.issn.1000-3258.2003.z2.032

为了澄清Pr抑制超导电性机理及Pr占Ba位问题,本文研究了不同的制备条件下PrBa2Cu3O7-δ(Pr123)样品的物性,分析了电阻率和氧含量随烧结温度不同所表现出的变化.结果表明,烧结温度为880℃时样品的电阻率最低,高于920℃时,电阻率最大,同时也不利于体系吸氧,这可能是由于PrBa缺陷而引起.正电子寿命谱也因此表现出相应的变化规律.短寿命τ1参数和中间寿命τ2参数均在900℃出现最低峰值.由此可知,单从温度条件考虑,制备Pr123的最佳烧结温度应该为900℃左右.

关键词: 正电子湮没 , 氧含量 , PrBa缺陷

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