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  • 论文(5)

基于STM32和CPLD的TFT-LCD显示控制器设计

尤卫卫 , 冒建亮 , 叶桦

液晶与显示 doi:10.3788/YJYXS20153003.0444

为了实现对TFT-LCD的控制,本文以STM32和CPLD作为核心控制器,SRAM作为显示缓存,介绍了一种TFT-LCD控制器设计方法。首先,对设计总体架构进行了分析,STM32内部实现了 Intel8080总线协议的制定,CPLD 内部实现了通讯协议的解析、LCD显示时序的驱动、以及 SRAM的读...

关键词: STM32 , CPLD , SRAM , LCD时序

一种改进的SRAM单粒子效应检测系统

童腾 , 苏弘 , 王晓辉 , 刘杰 , 张战刚 , 刘天奇 , 古松 , 杨振雷

原子核物理评论 doi:10.11804/NuclPhysRev.31.02.170

中国科学院近代物理研究所材料研究中心开展了对静态随机存储器(Static Random Access Memory, SRAM)单粒子效应(Single Event Effects, SEEs)的深入研究。材料中心目前拥有的两套SRAM单粒子检测系统各自具有一定的局限性,所以又提出了一种改进的SRA...

关键词: SRAM , 单粒子效应 , 检测系统 , 重离子

多晶硅栅耗尽导致的SRAM单比特位失效分析

李睿 , 王俊 , 孔蔚然 , 马惠平 , 浦晓栋 , 莘海维 , 王庆东

功能材料与器件学报 doi:10.3969/j.issn.1007-4252.2008.05.014

本文分析了一种静态随机存储器单比特位失效的机理.通过纳米探针测量,发现该比特位写操作失败是由负责存取的N型晶体管的驱动力较弱导致.TEM分析显示该晶体管的多晶硅栅中晶粒尺寸较大,这有可能导致栅的功函数变化以及靠近栅介质层区域的掺杂较轻.我们用SPICE模拟证实了晶体管驱动力变弱的原因是局域的多晶栅耗...

关键词: 静态随机存储器 , 单比特位失效 , 多晶硅栅耗尽