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热蒸发法制备第Ⅳ族半导体纳米线的研究进展

李瑞 , 张析 , 张丹青 , 向钢

材料导报

系统地分析了压强和温度在热蒸发法生长中对Si纳米线的产量和形貌结构的影响,并全面解析了用热蒸发法制备Ⅳ族纳米线的氧化物辅助生长机理.同时,对国内外采用热蒸发法制备第Ⅳ族半导体(Si、Ge、SiGe)纳米线的研究现状进行了详细介绍,并展望了其应用前景.

关键词: 热蒸发法 , 第Ⅳ族半导体 , Si纳米线 , Ge纳米线 , SiGe纳米线

多晶Si薄膜表面金催化Si纳米线生长

马蕾 , 郭延岭 , 娄建忠 , 彭英才

人工晶体学报

以Au膜作为催化剂和大晶粒多晶Si薄膜为衬底,利用固-液-固生长机制,制备出直径在30~ 100 nm和长度为几百微米的高密度Si纳米线.实验研究了退火温度、生长时间和N2流量对Si纳米线生长的影响.结果表明,随着退火温度的升高,生长时间的延长和N2流量的增加,Si纳米线的长度和密度都显著增加.对不同生长时间下获得的Si纳米线样品进行了X射线衍射测量,结果显示随着生长时间的延长,多晶Si薄膜和表面的Au膜成分都在减少.光致发光谱则显示出弱的蓝光发射和强的红光发射特性,前者应是由非晶SiOx壳层中的氧空位发光中心引起,后者则应归因于Si纳米线芯部与非晶SiOx壳层之间界面区域附近中的Si =O双键态或非桥键氧缺陷中心.

关键词: 多晶Si薄膜 , Si纳米线 , 退火温度 , 生长时间 , 光致发光

Au掺杂浓度对Si纳米线电子结构和磁性的影响

梁伟华 , 赵亚军 , 王秀丽 , 郭建新 , 傅广生 , 王英龙

人工晶体学报

利用基于密度泛函理论的第一性原理,对不同直径和浓度Au掺杂Si纳米线的态密度和磁性进行了计算.结果表明:杂质Au的形成能随Si纳米线直径的增大和掺杂浓度的降低而下降,这说明直径越小的Si纳米线掺杂越困难,杂质浓度越高的Si纳米线越不稳定.其磁性是由于Au d轨道和Si p轨道的p-d耦合而产生的;改变Au的掺杂浓度可改变Si纳米线的带隙,也改变了其磁矩的大小.

关键词: Si纳米线 , 掺杂浓度 , 磁性 , 电子结构

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