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非测量层SnK_α特征谱线对X射线荧光光谱法测定冷轧镀锡板Sn层质量影响的探讨

林学武 , 王德智 , 徐永宏

冶金分析 doi:10.3969/j.issn.1000-7571.2010.03.004

本文运用ZSX仪器分析软件建立了基本参数法(FP)测试模型,对冷轧镀锡板Sn层质量分析中非测量层SnK_α特征谱线对定量分析的影响进行了研究.阐述了影响非测量层SnK_α特征谱线产生的两大因素基板厚度和镀层质量及其变化对定量分析产生的SnK_α增量影响程度,得出当基板厚度大于0.2 mm时,非测量层...

关键词: X射线荧光光谱 , 基板厚度 , 镀层质量 , 非测量层 , SnK_α