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SrRuO3的相变规律与临界指数的研究

侯登录 , 赵晶 , 杜国强 , 唐贵德

功能材料

利用交流磁化率实验结果研究SrRuO3材料的相变规律:利用居里温度处M(h,0)∝h1/δ关系得到δ=3.17±0.20.计算约化温度tm=(Tm-TC)/TC,利用公式,tm∝h1/(γ+β),得到γ+β值为1.50±0.05.利用交流磁化率峰的高度xm与峰的温度tm的关系,xm(h,tm)∝tm-γ,得到指数y=0.96±0.05.以上结果与平均场预测值相近.

关键词: 相变 , SrRuO3 , 磁性材料 , 临界指数

沉积温度对磁控溅射BiFeO3薄膜结构和性能的影响

赵庆勋 , 张婷 , 马继奎 , 魏大勇 , 王宽冒 , 刘保亭

人工晶体学报

应用磁控溅射法在以SrRuO3 (SRO)薄膜为缓冲层的Pt/TiO2/SiO2/Si(001)基片上制备了多晶BiFeO3 (BFO)薄膜,构架了SRO/BFO/SRO异质结电容器.采用X射线衍射、铁电测试仪等研究沉积温度对BFO薄膜结构和性能的影响.X射线衍射图谱显示BFO薄膜为多晶结构.在2.5 kHz测试频率下,500℃生长的BFO薄膜呈现比较饱和的电滞回线,2Pr为145μC/cm2,矫顽场Ec为158 kV/cm,漏电流密度约为2.4×104 A/cm2.漏电机制研究表明,在低电场区,SRO/BFO/SRO电容器满足欧姆导电机制,在高电场区,满足普尔-弗兰克导电机理.实验发现:SRO/BFO/SRO电容器经过109翻转后仍具有良好的抗疲劳特性.

关键词: 磁控溅射 , 沉积温度 , SrRuO3 , BiFeO3薄膜

SrRuO3的磁化率随温度的变化关系

侯登录 , 徐静 , 唐贵德 , 聂向富 , 姜恩永

稀有金属 doi:10.3969/j.issn.0258-7076.2003.05.038

用固相反应法制备了SrRuO3样品, 用物理性质测量系统PPMS测量, 得到了样品在不同直流偏磁场下的交流磁化率随温度变化关系曲线. 观察到SrRuO3的磁化率曲线在居里温度附近呈现临界峰和Hopkinson峰, 它们的位置随直流偏磁场的不同而有规律的变化. SrRuO3的Hopkinson峰随磁场的增大向低温移动, 而其临界峰随磁场的增大几乎不变, 并分析了上述现象的原因.

关键词: 磁化率 , Hopkinson峰 , SrRuO3

残余应力对SrRuO3薄膜磁学及电输运性能的影响

朱明康 , 董显林 , 陈莹 , 丁国际 , 王根水

无机材料学报 doi:10.15541/jim20160190

采用射频磁控溅射法在单晶SrTiO3 (STO)衬底和硅(Si)衬底上制备出不同取向的SrRuO3 (SRO)薄膜,对薄膜的残余应力进行了分析,并研究了应力对不同取向SRO薄膜磁学性能与电输运特性的影响.根据X射线衍射(XRD)结果分析可知,Si基SRO薄膜为多晶单轴取向薄膜,且应力来源主要为热失配拉应力;STO基SRO薄膜为外延薄膜,其应力主要为热失配压应力和外延压应力;磁学性能测试表明,(001)取向SRO薄膜比(110)取向薄膜拥有更高的居里温度TC;压应力提高了(001)取向SRO薄膜的TC,却降低了(110)取向薄膜的TC.电阻性能测试表明,对于在同种类型衬底上沉积的SRO薄膜,(001)取向的薄膜的剩余表面电阻比(RRR)高于(110)取向的薄膜.另外,拉应力引起了薄膜微结构的无序度增加,弱化了表面电阻率的温度依赖性,提高了金属绝缘体转变温度(TMI).

关键词: 钌酸锶 , 取向 , 残余应力 , 磁学性能 , 电输运特性

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