杨锁龙
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余春荣
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杨光文
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高戈
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吴伦强
稀有金属材料与工程
介绍了用能量色散X射线荧光光谱(EDXRF)法测定U-Ta合金中Ta含量的分析方法.该方法将样品溶解,加载于滤纸片上,制成滤纸试样片,用X射线荧光光谱仪测定试样片中Ta含量.该方法简便、快速、准确,适用于Ta含量在1％～6％范围的U-Ta合金样品的Ta含量测定.对Ta含量为1.5％的样品,测量结果的相对标准偏差(n=6)不大于0.6％; Ta含量为5％的样品,测量结果的相对标准偏差(n=6)不大于0.3％.
关键词:
U-Ta合金
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X射线荧光光谱分析
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Ta含量
