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聚乙烯亚胺在 SiC粉体上的定量吸附研究

孙静 , 孙伟燕 , 高濂 , 郭景坤

无机材料学报 doi:10.3321/j.issn:1000-324X.2000.02.010

利用紫外－可见光谱研究了分散剂聚乙烯亚胺在粉体SiC上的定量吸附情况. 加入酸性PEI后粉体SiC表面的电性发生改变，等电点由pH=2.0移至pH=10.5. 分散剂在粉体上的吸附满足Langmuir单层吸附方程. 对分散剂PEI--H+(pH=3.57)来说，单层吸附值为0.0172mg/mL. 对分散剂PEI--H+(pH=6.61)来说，单层吸附值为0.0208mg/mL. 利用富利叶红外光谱证实了这种吸附作用.

关键词: 聚乙烯亚胺 , 定量吸附 , 紫外光谱 , SiC粉体