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施国栋 , 何德坪 , 张勇明 , 何思渊
机械工程材料 doi:10.3969/j.issn.1000-3738.2008.03.004
利用X射线断层扫描技术获得了超轻多孔铝试样的任意截面重构图像,通过对该图像的分析实现了对多孔铝试样孔结构的描述,并得到了重构横截面的面孔隙率.结果表明:超轻多孔铝试样孔结构描述新方法与传统剖开试样分析方法相比,可以获得相同的孔结构分析结果,并具有非接触、非破坏和提高效率的特点.
关键词: X射线断层扫描技术 , 闭孔泡沫铝 , 孔结构
