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基于XRD的径向分布函数法研究碳纤维制备过程中的结构演变

林雪 , 王成国 , 于美杰 , 徐勇 , 林治涛 , 张姗

航空材料学报 doi:10.3969/j.issn.1005-5053.2013.1.013

采用X射线和径向分布函数研究分析了聚丙烯腈( PAN)基碳纤维制备过程中的结构演变.结果表明,PAN原丝中存在着与石墨类似的结构,该结构是石墨微晶结构形成的重要基础；PAN大分子链最近邻链间间距为0.688nm；碳化温度在500 ～ 1250℃范围内的碳化纤维中的第三近邻距离均大于石墨晶体的第三近邻距离,表明碳纤维中没有形成平面构型的六元环石墨烯层片；在整个碳纤维的制备过程中,纤维结构经历了长程有序-长程无序、短程有序-长程有序的演变.

关键词: 碳纤维 , 聚丙烯腈 , X射线衍射(XRD) , 径向分布函数 , 结构

MoS2含量对Cu-MoS2复合材料烧结过程的影响

陈淑娴 , 凤仪 , 李庶 , 解育娟 , 李京徽 , 王东里

材料热处理学报

采用粉末冶金法在保护气氛下制备Cu-MoS2复合材料,用X射线衍射(XRD)和光电子能谱分析(XPS)技术对烧结前、后的试样进行物相和成分分析.研究二硫化钼的含量对复合材料烧结过程和性能的影响.通过热力学分析对烧结过程中的反应进行了讨论.结果表明,在烧结过程中MoS2并未与H2反应,而只与基体铜发生两步反应,分别生成复杂的铜钼硫化合物、Cu的硫化物和单质Mo.且随着MoS2含量的增加,烧结产物有规律地发生变化,复合材料的抗弯强度大幅度减小,电阻率明显升高.热力学分析与XRD和XPS测试结果相吻合.

关键词: Cu-MoS2复合材料 , 烧结 , X射线衍射(XRD) , 光电子能谱(XPS)

密堆六方纳米ZnO的X射线衍射表征与研究

程国峰 , 杨传铮 , 黄月鸿

无机材料学报 doi:10.3321/j.issn:1000-324X.2008.01.039

X射线衍射(XRD)实验发现密堆六方纳米ZnO的hk0、h-k=3n的衍射线,仅存在微晶宽化,而h-k=3n±1的衍射线,无l=偶数、l=奇数的层错选择宽化效应.为了表征这种纳米ZnO的晶粒大小和层错几率,提出了分解纳米ZnO微晶-层错二重宽化效应的最小二乘法.计算结果表明:密堆六方纳米ZnO的晶粒大小和层错几率与制备方法、原料配比等有关.

关键词: ZnO , 晶粒大小 , 层错几率 , X射线衍射(XRD)

GaAs/Si(100)异质外延4°偏角衬底对外延层结晶质量的提高

熊德平 , 罗莉 , 雷亮 , 陈志新

功能材料与器件学报 doi:10.3969/j.issn.1007-4252.2010.03.001

用低压金属有机物化学汽相沉积法(MOCVD)在Si(100)无偏角和Si(100)4°偏角衬底上外延生长GaAs层.异质外延采用两步生长法,并分别优化了两种衬底上的非晶低温缓冲层的生长条件.用X射线双晶衍射(XRD)和透射电子显微镜(TEM)对两种衬底上的GaAs外延层进行了结构表征,其中Si(100)4°偏角衬底上1.8μm厚GaAs的(004)面XRD衍射半高全宽338 arcsec,同比在无偏角衬底上的半高全宽为494arcsec,TEM图片显示4°偏角衬底上外延层中的位错密度大大降低.

关键词: GaAs/Si异质结 , X射线衍射(XRD) , 透射电子显微镜(TEM)

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