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宓小川 , 刘莲君
物理测试
利用Rietveld全谱线形拟合技术定量测定了热轧板表面氧化皮各组成相的含量，谱线拟合时准确、合理地选择晶体学参数和峰形模型是拟合成败的关键。与传统的X射线衍射定量方法相比，Rietveld全谱线形拟合定量分析具有无需标样、适用面广、结果准确等特点。
关键词: Rietveld全谱拟合 , Xray diffraction , scale , quantitative analysis
研究TiAlN薄膜离子注入层的微观结构梁旺胜，陶冶，刘红亮
利用磁过滤阴极电弧镀在硬质合金上沉积厚度约2~3 μm的TiAlN薄膜，并用MEVVA源离子对TiAlN薄膜注入金属离子V+和Nb+。应用北京同步辐射装置（BSRF）的同步辐射光源，采用掠入射X射线衍射（GIXRD）的方法对TiAlN薄膜表面离子注入层的微观结构进行分析研究。结果表明：未经过离子注入...
关键词: 同步辐射 , grazing incidence , Xray diffraction , ion implantation , TiAlN films
王锐 , 周敬 , 李文竹 , 黄磊
利用Rietveld 全谱精修方法进行钢铁材料中的残余奥氏体的测定。该方法测定钢中残余奥氏体具有操作简单和结果重现性好的优点。
关键词: X射线衍射 , austenite , texture , quantitative phase analysis , full pattern fitting
