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任新光 , 罗劲松
液晶与显示 doi:10.3969/j.issn.1007-2780.2009.06.007
提出一种由X-射线发生器、光学光纤、荧光光谱仪组成的用于测定X-射线发光材料的新装置.该设备可以测定X-射线发光材料的荧光强度随着波长的变化曲线、荧光强度随着激发时间的变化曲线、余辉衰减随着时间的变化曲线以及余辉时间等.研究了X射线发光材料在不同时间段的光谱特征.
关键词: X-射线发光材料 , X-射线发光光谱
