张化福
,
类成新
,
刘汉法
,
袁长坤
材料导报
利用直流磁控溅射法在玻璃衬底上制备了ZnO光电性能的影响.研究结果表明,厚度对薄膜的结构和电学性能有很大的影响.制备的ZZO薄膜为六角纤锌矿结构的多晶薄膜,具有C轴择优取向.在厚度为593nm时,薄膜的电阻率具有最小值1.9×10-3Ω·cm.所制备薄膜样品的可见光平均透过率都超过93%.
关键词:
ZnO
,
Zr薄膜
,
磁控溅射
,
薄膜厚度
,
透明导电薄膜
施立群
,
晏国强
,
周筑颖
,
胡佩钢
,
罗顺中
,
丁伟
金属学报
本文研究Zr薄膜在等离子体作用下的氢化特性.测试表明,与分子氢相比,氢等离子体作用下氢化速率明显增高,在室温和≈2Pa氢压的DC放电条件下,氧化10 min样品的氢化浓度可达饱和值,即66.67(原子分数,%),远大于该压强下的气体氢化浓度.在非超清洁系统中,等离子体氢化在样品表面产生大量的氧污染和...
关键词:
Zr薄膜
,
null
,
null
施立群
,
晏国强
,
周筑颖
,
胡佩钢
,
罗顺中
,
丁伟
金属学报
doi:10.3321/j.issn:0412-1961.2002.09.016
本文研究Zr薄膜在等离子体作用下的氢化特性.测试表明,与分子氢相比,氢等离子体作用下氢化速率明显增高,在室温和≈2Pa氢压的DC放电条件下,氧化10 min样品的氢化浓度可达饱和值,即66.67(原子分数,%),远大于该压强下的气体氢化浓度.在非超清洁系统中,等离子体氢化在样品表面产生大量的氧污染和...
关键词:
Zr薄膜
,
氢化
,
等离子体
