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电子束蒸发a-Si:Co薄膜的离子注入改性研究

马铁英 , 刘焕林 , 陈刚 , 杨宇

功能材料

用电子束蒸发技术制备非晶硅薄膜,不同剂量Co离子注入后真空退火改性.X射线衍射法分析了样品的物相变化特征,发现Co离子注入可诱导非晶硅结晶,有一优化注入剂量5×1016ions/cm-2,使晶化Si(111)峰最强.还测量了非晶硅薄膜电阻率,揭示薄膜电阻温度系数随Co离子掺杂浓度和退火温度改变的规律;在退火温度500℃,离子注入量5×1015ions/cm-2条件下,获得TCR系数高达-2.5%的薄膜材料.

关键词: a-Si∶Co薄膜 , 离子注入 , 电阻温度系数

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