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短切SiC_f/LAS复合材料的显微结构与介电性能

翟晓勇 , 周万城 , 罗发 , 朱冬梅

稀有金属材料与工程

采用热压烧结法制备出致密的短切SiC_f增强LAS玻璃陶瓷复合材料,并讨论保温时间与热压压力对复合材料介电性能的影响.结果表明,测试频率在8~12 GHz之间,复合材料复介电常数实部ε′由基体的7.6上升到10~100,虚部ε″由基体的0.34上升到40~160,介电损耗tgδ由基体的0.04上升到1~20,并具有明显的频散效应.随保温时间的延长或热压压力的提高,复合材料ε′增大,ε″与tgδ减小.此外,断口形貌的SEM观察表明,随保温时间的延长或热压压力的提高,复合材料界面层变厚.

关键词: 短切SiC纤维 , LAS玻璃陶瓷 , 介电性能

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