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金刚石的晶体质量评定探究

刘剑红 , 陈美华 , 吴改 , 宫旎娜

人工晶体学报

分别选用辽宁瓦房店原生矿产出金刚石、湖南砂矿产出金刚石、CVD合成金刚石、高温高压合成金刚石各1颗,采用红外光谱、高分辨率X射线衍射、拉曼光谱和正交偏光显微观察的分析方法,对其晶体质量进行了研究.通过比较金刚石1332.5 cm-拉曼本征峰的实际位移与理论位移,四颗金刚石均存在一定的内应力,高温高压合成金刚石的内应力小于其它三颗金刚石;金刚石拉曼本征峰的半高宽比对表明,四颗金刚石均存在较多晶格缺陷,其中湖南砂矿产出金刚石缺陷明显;采用双轴晶ω扫描方式测试了四颗金刚石{004}面的摇摆曲线,并估算其晶面族的晶面间距,结果显示高温高压合成金刚石{004}面的晶面间距大于其它三颗金刚石,可能是因孤氮所致;由金刚石摇摆曲线半高宽计算出内部平均位错密度值表明,高温高压合成金刚石最低,而瓦房店产出的金刚石内部平均位错密度最大,且含有亚晶界,这一结果与其异常双折射现象一致.

关键词: 金刚石 , 晶体质量 , 摇摆曲线 , 拉曼光谱 , 位错密度

外延生长碳化硅-石墨烯薄膜的制备及表征研究

张学敏 , 张立国 , 钮应喜 , 鞠涛 , 李哲 , 范亚明 , 杨霏 , 张泽洪 , 张宝顺

功能材料 doi:10.3969/j.issn.1001-9731.2015.04.028

石墨烯作为一种碳原子所组成的二维蜂窝状结构晶体,具有诸多优异的特性,从而倍受全世界科学工作者的关注。在碳化硅衬底上外延生长石墨烯是实现石墨烯在微电子领域中应用的最有效途径之一。利用感应加热的高温 CVD 设备,先在4H-SiC 衬底上外延生长一层2~10μm 厚的碳化硅,然后直接再在外延碳化硅上原位外延生长石墨烯。实现外延碳化硅-石墨烯的连续生长,从而减少氢气刻蚀带来的晶格缺陷和表面硅富集严重削减现象,并使低成本制备碳化硅上的石墨烯成为可能。通过拉曼光谱、扫描电子显微镜及 X 射线光电子能谱等表征,验证了该方法生长的石墨烯具有较好的晶体质量。

关键词: 石墨烯 , 碳化硅 , 外延生长 , 晶体质量

溅射功率对钛镓共掺杂氧化锌透明导电薄膜光电性能的影响

张腾 , 钟志有 , 汪浩

人工晶体学报

以ZnO∶Ga2O3∶TiO2(97wt%∶1.5wt%∶1.5wt%)陶瓷靶作为溅射源,采用射频磁控溅射技术在玻璃衬底上制备了钛镓共掺杂氧化锌(TGZO)透明导电薄膜,通过X射线衍射仪、四探针仪和分光光度计测试表征,研究了溅射功率对TGZO薄膜晶体结构、电学性质和光学性能的影响.结果表明:所有TGZO薄膜均为六角纤锌矿结构,并且具有(002)择优取向,溅射功率对薄膜性能具有明显的影响.当溅射功率为200 W时,TGZO薄膜的结晶质量最好、电阻率最低、平均可见光透射率最高,品质因数最大(1.22×10-2 Ω-1),其光电综合性能最佳.另外,通过光谱拟合方法研究了溅射功率对TGZO薄膜折射率和消光系数的影响,并利用Tauc关系式计算了样品的光学能隙.

关键词: 氧化锌薄膜 , 溅射功率 , 结晶质量 , 电阻率 , 透过率

典型单质炸药晶体结晶品质的显微拉曼光谱法评价分析

栾洁玉 , 陈智群 , 宁艳利 , 李晓宇 , 郑朝民

人工晶体学报

为了评价分析单质炸药晶体结晶品质,采用无损、快速的显微拉曼光谱分析技术,研究了单晶、纯度标准物质、工业品3种不同结晶品质奥克托金(HMX)5个拉曼特征峰统计规律.结果表明:随着晶体缺陷增多,拉曼特征峰半峰宽值(FWHM)随之增大,其相对标准偏差(RSD)亦增大.在此基础上,对未知结晶品质的3种黑索今(RDX)试样RDX-1、RDX-2、RDX-3进行相同条件的显微拉曼试验,并根据拉曼特征峰半峰宽值确定其结晶品质由高到低依次为RDX-1、RDX-2、RDX-3,和扫描电镜法品质评价分析结论一致.

关键词: 单质炸药 , 结晶品质 , 评价 , 显微拉曼光谱 , FWHM

APCVD法制备Nb∶TiO2薄膜及其光电性能

杨磊 , 刘涌 , 王慷慨 , 丛炳俊 , 程波 , 陆妍 , 林俊君 , 宋晨路

材料科学与工程学报 doi:10.14136/j.cnki.issn.1673-2812.2015.04.012

透明导电氧化物(TCO)薄膜要求低电阻率和可见光区高透过率.目前最常用的是ITO薄膜存在着有毒、In成本高等难以克服的缺点.NTO薄膜是近年来新发现的一种具备广阔前景的TCO薄膜,但对它的认识还不充分.本文采用APCVD法在玻璃基板上成功制备出了颗粒均匀细小致密的NTO薄膜,探索出最佳反应温度为500℃~550℃,通过高真空退火的方式改善了薄膜晶体质量,光学透过率获得大幅提升,与经过掺杂但未经过H2退火的Nb∶TiO2薄膜和经过H2退火但未掺杂的TiO2薄膜相比较,经过掺杂和H2退火的Nb∶ TiO2薄膜其电学性能得到明显改善.

关键词: 透明导电氧化物薄膜 , 常压化学气相沉积 , 晶体质量 , 光电性能

温度梯度法合成金刚石大单晶的研究进展

张恒涛 , 肖长江 , 尚秋元 , 栗正新 , 朱玲艳

材料导报

介绍了金刚石大单晶的温度梯度法合成技术,详细综述了影响金刚石晶体形貌、晶体品质以及生长速度等相关因素的最新进展,简要叙述了掺杂对金刚石晶体晶形、性能的影响,最后指出了温度梯度法合成金刚石大单晶的发展方向.

关键词: 金刚石大单晶 , 温度梯度法 , 晶体形貌 , 晶体品质 , 生长速度

AlGaN成核层对SiC衬底外延GaN薄膜应力及缺陷影响的研究

徐明升 , 胡小波 , 徐现刚

人工晶体学报

研究了成核层生长条件对SiC衬底上GaN薄膜晶体质量和剩余应力的影响.采用AlGaN成核层并提高其生长温度,能明显降低SiC衬底上GaN外延层的缺陷密度和剩余应力.GaN薄膜的高分辨XRD摇摆曲线(0002)和(10-12)面的半峰宽达到161 arcsec和244 arcsec,拉曼频移达到567.7 cm-1.成核层的原子力显微镜结果显示GaN薄膜的晶体质量随着成核岛密度的降低而提高.

关键词: SiC衬底 , GaN薄膜 , AlGaN成核层 , 应力 , 晶体质量

图形化衬底对高In组分InGaN材料分子束外延(MBE)生长的影响

李宝吉 , 吴渊渊 , 陆书龙 , 张继军

材料导报 doi:10.11896/j.issn.1005-023X.2016.16.007

研究了不同衬底上MBE技术生长的InGaN的光学和结构特征.结果表明,在相同生长条件下,用图形化衬底生长的InGaN材料比用普通衬底生长的材料有较低的表面粗糙度和背景载流子浓度及较强的发光强度.通过透射电子显微镜(TEM)观察,发现普通衬底生长的InGaN内部原子错排现象严重,而采用图形化衬底生长的InGaN原子排列清晰规则.这主要是因为图形化衬底材料外延初期为横向生长模式,这种生长模式可有效地抑制穿透位错在GaN材料体系中的纵向延伸,降低GaN缓冲层中的位错密度,进而抑制外延InGaN材料中穿透位错和V型缺陷的产生.

关键词: InGaN , 图形化衬底 , 分子束外延 , 晶体质量

提高蛋白质晶体质量的研究进展

鹿芹芹 , 尹大川 , 刘永明 , 陈瑞卿 , 曹慧玲 , 解思晓

材料导报

获得高质量蛋白质晶体一直是X射线衍射解析蛋白质结构的瓶颈问题,因此研究提高蛋白质晶体质量的方法具有非常重要的意义.近年来人们从影响蛋白质结晶过程的各个因素出发,发展了一系列提高蛋白质晶体质量的方法,如在亚稳区生长蛋白质晶体、利用特殊环境影响蛋白质晶体生长的动力学过程、利用去垢剂提高蛋白质晶体质量和分子工程改造蛋白质分子提高晶体质量等.分析和评述了这些方法影响蛋白质结晶过程的机理.

关键词: 蛋白质 , X射线衍射 , 晶体质量

预制层衬底加热对Cu2ZnSnS4薄膜性能的影响

张俊芝 , 代福 , 范东华 , 郑春来

人工晶体学报

本文采用二步法制备Cu2ZnSnS4(CZTS)薄膜,首先通过真空热蒸发制备CuZnSn (CZT)预制层,其衬底加热温度分别为20℃、50℃、75℃和100℃,然后对所制备的CZT预制层在400℃下硫化60 min,从而制备出CZTS薄膜.利用XRD、Raman、SEM、反射谱和透射谱对所制备的CZTS薄膜进行了表征,实验结果表明,预制层衬底加热温度对CZTS薄膜结构与光学特性有很大影响,在衬底加热50℃时制备预制层硫化后所得CZTS薄膜具有高的结晶度、致密均匀的薄膜表面和最佳1.5 eV光学带隙.此外,与衬底未加热制备预制层在500℃和90 min最佳硫化条件下所制备的高纯CZTS薄膜相比,在50℃预制层衬底加热条件下所制备CZTS薄膜具有更好地结晶质量、更低的硫化温度和更短的硫化时间,这种现象表明衬底加热制备金属预制层利于更高品质CZTS薄膜的制备,可有效的降低硫化温度和缩短硫化时间,当前的研究结果为在低温下实现高质量CZTS薄膜的制备提供了一种有效的途径.

关键词: Cu2ZnSnS4(CZTS)薄膜 , 衬底加热 , 晶体性能

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