高洁
,
杨富尧
,
马光
,
程灵
,
陈新
,
孔晓峰
材料导报
doi:10.11896/j.issn.1005-023X.2016.03.023
阐述了基于传统爱泼斯坦(Epstein)方圈法的电工钢片磁性能测量技术的新进展,主要涉及排除方圈角部双搭接结构区域被测试样磁性能不均匀性影响的双Epstein方圈法,以及考虑了方圈不同部位总比损耗不同的磁路长度加权处理法.通过分析以Epstein方圈法为基础的直流偏磁工况磁测量技术发展现状和存在的问题,对方圈法在直流偏磁性能测量技术方面的应用及发展进行了展望.
关键词:
磁特性测量
,
电工钢片
,
直流偏磁
,
爱泼斯坦方圈
