李旺
,
刘勇
,
鲁厚芳
钢铁钒钛
doi:10.7513/j.issn.1004-7638.2016.03.008
使用正硅酸乙酯(TEOS)作为硅源,采用溶胶-凝胶法在钛白粉表面包覆致密SiO2膜层,对包膜过程的主要影响因素进行研究.用SiO2沉积量和酸溶率综合评价包覆效果,确定了最佳包覆条件.使用胺类分散剂,采用并流加料方式,打浆浓度为200 g/L,温度为60℃,催化剂氨水添加量为4％,水醇比为1∶6.9时,达到最佳包覆效果.对比研究发现TEOS比硅酸钠包膜产物显示出更低的酸溶率和光催化活性,表明TEOS包覆的SiO2膜层具有更高的致密度,包膜产物耐候性更高.红外光谱和扫描电镜表征确定了SiO2膜层以化学键合的方式包覆于TiO2表面.使用电导率测定方法分析了包膜过程的机理.
关键词:
二氧化钛
,
包膜
,
正硅酸乙酯
,
致密二氧化硅
,
高耐候性
