张检明
,
邵曹杰
,
卢荣春
,
于得洋
,
张月昭
,
王伟
,
刘俊亮
,
蔡晓红
原子核物理评论
doi:10.11804/NuclPhysRev.32.02.254
无论对深入理解电子-原子的作用机制，还是在材料等领域的实际应用，电子轰击原子的内壳电离截面都具有重要意义。当前电子碰撞引起原子内壳电离的实验数据多集中在几十keV入射能量和中小Z靶原子，其它数据相对比较缺乏。本工作以能量为1.0 MeV电子轰击Ta和Au靶，通过测量靶原子特征X射线的产额，获得其K壳电离截面分别为13.3和10.1 b，L壳电离截面分别为554和338 b。并将实验结果和相应的理论进行了对比，结果显示，本实验测得的K壳电离截面与Casnati、Hombourger理论值、L壳电离截面与Scofield和Born-Bethe的理论值相符。
关键词:
电子碰撞
,
内壳电离
,
电离截面
