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1.0 MeV电子碰撞引起Ta和Au内壳电离截面的测量

张检明 , 邵曹杰 , 卢荣春 , 于得洋 , 张月昭 , 王伟 , 刘俊亮 , 蔡晓红

原子核物理评论 doi:10.11804/NuclPhysRev.32.02.254

无论对深入理解电子-原子的作用机制，还是在材料等领域的实际应用，电子轰击原子的内壳电离截面都具有重要意义。当前电子碰撞引起原子内壳电离的实验数据多集中在几十keV入射能量和中小Z靶原子，其它数据相对比较缺乏。本工作以能量为1.0 MeV电子轰击Ta和Au靶，通过测量靶原子特征X射线的产额，获得其K壳...

关键词: 电子碰撞 , 内壳电离 , 电离截面